WeibangKotak penuaan akselerasi tekanan tinggi HAST dua slotNama dalam bahasa Inggris (2-Zone HAST CHAMBER) digunakan untuk kemasan IC, semikonduktor, chip mikroelektronik, bahan magnetik dan komponen elektronik lainnya untuk uji keandalan hidup yang dipercepat dengan tekanan tinggi, suhu tinggi, panas basah yang tidak jenuh / jenuh, dll.

►Menggunakan desain slot ganda atas dan bawah, menghemat ruang laboratorium,Harga 1 Mesin = Nilai 2 MesinMengurangi biaya penggunaan peralatan.

►Dual control layar tunggal, mengurangi pengaturan yang rumit dan membosankan, memenuhi pengujian bersamaan sampel yang berbeda, meningkatkan efisiensi uji coba.

►Terminal bias 96 jalur dirancang untuk memenuhi tes bias chip.

►Produk ini kompatibel dengan uji panas basah konstan untuk uap tekanan tinggi yang tidak jenuh HAST dan uji uap tekanan tinggi jenuh PCT.

►Desain pintu kotak otomatis, tombol kontrol pintu kotak terbuka, dilengkapi dengan perlindungan tekanan.

Bidang Aplikasi：

Untuk PCB, IC semikonduktor, konektor, papan sirkuit, bahan magnetik, bahan polimer, EVA、 Produk terkait industri seperti komponen fotovoltaik untuk uji hidup penuaan yang dipercepat

Memenuhi standar：

AEC-Q100-REV-J

AEC-Q101-REV-E

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997 Pengujian Lingkungan Elektronik dan Elektronik Bagian 2: Metode Pengujian Cx: Panas basah konstan dari uap tekanan tinggi yang tidak jenuh

IEC60068-2-66-1994 Pengujian Lingkungan Bagian 2-66: Metode uji coba. Uji Cx: Panas basah dalam keadaan stabil

Umur offset suhu dan kelembaban siklus JESD22-A100

JESD22-A101 Suhu keadaan stabil, kelembaban / tekanan bias, uji umur (suhu, kelembaban, tekanan bias)

JESD22-A102 Uji uap tekanan tinggi (mempercepat penetrasi anti-kelembaban)

JESD22-A108 Suhu, tegangan bias dan umur kerja

JESD22-A110 Uji tekanan suhu dan kelembaban akselerasi tinggi HAST

JESD22-A118 UHAST (uap tegangan tinggi yang tidak jenuh tanpa tegangan bias)

* Bisa disesuaikan dengan spesifikasi parameter dan ukuran model