Meja uji umur relay Meja uji kinerja gangguan relay terutama digunakan untuk pengujian kinerja komprehensif seperti kinerja gangguan relay, pengujian umur
Komposisi Struktur Komponen: lemari resistor, lemari induksi, lemari kontrol, sumber daya variabel frekuensi yang dapat disesuaikan
Prinsip kerja Dengan mengatur jumlah uji coba, waktu gangguan, jumlah kegagalan akumulasi dan parameter lainnya, menyesuaikan tegangan kumparan (AC / DC), tekan tombol start untuk memulai uji coba, urutan uji coba tetap dimulai dari stasiun pertama (pilihan stasiun penuh), melewati, memutuskan siklus (siklus stasiun tunggal) setelah penundaan 0,5 ~ 1S (waktu beralih stasiun, dapat diatur), memulai deteksi stasiun kedua, dan sebagainya, sampai stasiun keenam, stasiun keenam melewati, memulai siklus uji coba kembali dari stasiun pertama setelah memutuskan siklus uji coba, di tengah jika stasiun tertentu gagal (seperti stasiun ketiga), uji coba akan mengelilingi stasiun ini untuk melanjutkan percobaan berikutnya (dari 1-2-3-4-5-6 siklus asli menjadi -1-2-4-5-6 siklus), 5, semua
Uji coba tiba, uji coba berhenti.
Parameter teknis utama:
arus: 3 ~ 120A akurasi 2%
Faktor daya: 0,3 ~ 1 akurasi ± 0,05
Resolusi Minimum: 0.1S
Tegangan kontrol kumparan relay uji: tegangan: DC3 ~ 50V, AC: 3V ~ 300V
Arus kumparan DC: 800mA, AC: 1A
Jumlah uji coba: maksimal dapat dilakukan 9999999 kali (dapat diatur secara sewenang-wenang)
Dengan saklar berhenti darurat: tekan saat darurat, dapat memotong daya sirkuit utama beban
Pengukur daya: menampilkan tegangan beban, arus, faktor daya
Fitur tampilan layar: pada layar sentuh dapat mengatur jumlah uji coba yang dibutuhkan dan waktu gangguan, fungsi pemeliharaan atau pertanyaan data uji coba
Cara catatan data: dengan RAM yang dilindungi baterai, dapat menyimpan pengaturan perangkat, nilai sampel dan saat sampel, memori maksimum menyimpan kurva sejarah tidak kurang dari 30 hari, data sejarah (ketika sampel 1 menit)
Alarm Instruksi: Ketika peralatan dan sampel tidak normal, memberikan alarm suara dan cahaya sambil menampilkan lokasi kegagalan dan penyebabnya dan solusinya pada instrumen